精密I-V測試測量探針臺系統(tǒng)

精密I-V測試測量探針臺系統(tǒng)特點 / 應用

◆ 滿足I-V/C-V，PIV測試，光電測試等.，◆ 從4英寸/6英寸/8英寸可用于8英寸以內(nèi)樣品測試，同軸絲杠傳動結構，線性移動，兼容高倍率金相顯微鏡，可微調(diào)移動，可升級做射頻，大電流方面的測試和激光修復應用

精密I-V測試測量探針臺系統(tǒng)：CL系列探針臺可兼容高倍率金相顯微鏡，可微調(diào)移動 ；可升級做射頻，大電流方面的測試和激光修復應用，

探針臺系統(tǒng)剖析 探針臺系統(tǒng)分為手動探針臺與自動探針臺，以下我們主要分析手動探針臺： 探針臺用途： 手動探針臺又稱探針測試臺主要用途是為半導體芯片的電參數(shù)測試提供一個測試平臺，探針臺可吸附多種規(guī)格芯片，并提供多個可調(diào)測試針以及探針座，配合測量儀器可完成集成電路的電壓、電流、電阻以及電容電壓特性曲線等參數(shù)檢測。適用于對芯片進行科研分析，抽查測試等用途。 探針臺系統(tǒng)組成： 探針臺臺體+顯微鏡+探針座+探針夾具+探針+測試源表

寧波工程學院CL-6現(xiàn)場安裝圖                                                       青島大學CL-4現(xiàn)場安裝圖