綜合性分析探針臺測試系統

CINDBEST CH-8|8"~12" 綜合性分析探針臺測試系統特點/應用 

◆ 最大可用于 12 英寸以內樣品測試 

◆ 同軸絲杠傳動結構，線性移動

 ◆ 大手柄驅動，操作舒適，無回程差設計

 ◆ 針座平臺快速、微調升降功能 

◆ 可搭配多種類型顯微鏡 

◆ 晶片測試、光電器件測試、PCB/IC 測試、射頻測試、高壓大電流測試等 

◆ 結構模塊化設計，可無縫升級

 ◆ 探針臺可根據客戶要求定制。

CH-12 綜合性分析探針臺測試系統

臺體：型號 CH-8/CH-12 

樣品臺尺寸 8 英寸/12 英寸 

水平旋轉 可 360 度旋轉，可微調 15 度，精度 0.1 度，

帶角度鎖死裝置 

2X-Y 

移動行程 8 英寸*8 英寸/12 英寸*12 英寸X-Y 

移動精度 10 微米/1 微米樣品固定 真空吸附，

中心吸附孔，多圈吸附環針座平臺 U 型針座平臺，

最多可放置 10 個探針座平臺升降 可快速升降 6mm/可微調升降 25mm

背電極測試 樣品臺電學獨立懸空，4mm 插孔可接背電極

外形尺寸 840mm 長*600mm 寬*700mm 高/950mm 長*700mm 寬*700mm 高

 重量 約 100 千克/150 千克