日立FIB-SEM三束系統(tǒng)追求的TEM樣品制備工具 在設(shè)備及高性能納米材料的評(píng)價(jià)和分析領(lǐng)域，F(xiàn)IB-SEM已成為*的工具。 近來(lái)，目標(biāo)觀察物更趨微細(xì)化；更薄，更低損傷樣品的制備需求更進(jìn)一步凸顯。

型號(hào)：NX2000

更新日期：2023-06-20

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高精度實(shí)時(shí)三維分析FIB-SEM三束系統(tǒng)通過(guò)自動(dòng)重復(fù)使用FIB制備截面和進(jìn)行SEM觀察，采集一系列連續(xù)截面圖像，并重構(gòu)特定微區(qū)的三維結(jié)構(gòu)。 采用的鏡筒布局，從*材料、*設(shè)備到生物組織——在寬廣的領(lǐng)域范圍內(nèi)實(shí)現(xiàn)傳統(tǒng)機(jī)型難以企及的高精度三維結(jié)構(gòu)分析。

型號(hào)：NX9000

更新日期：2023-06-20

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高性能FIB-SEM系統(tǒng)高性能與高靈活性兼?zhèn)? “Ethos”采用日立高新的核心技術(shù)--的高亮度冷場(chǎng)發(fā)射電子槍及新研發(fā)的電磁復(fù)合透鏡，不但可以在低加速電壓下實(shí)現(xiàn)高分辨觀察，還可以在FIB加工時(shí)實(shí)現(xiàn)實(shí)時(shí)觀察。

型號(hào)：Ethos NX5000

更新日期：2023-06-20

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日立球差場(chǎng)發(fā)射透射電子顯微鏡200 kV相差校正TEM/STEM，平衡了空間分辨率和傾斜、分析性能 通過(guò)單極片實(shí)現(xiàn)0.078 nm的STEM空間分辨率和高樣品傾斜度、高立體角EDX。 透射電子顯微鏡除了延續(xù)了日立公司配備的具有掃描透射電子顯微鏡“HD-2700”的球面像差校正器的功能、自動(dòng)校正功能，像差校正

型號(hào)：HF5000

更新日期：2023-06-20

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日立掃描電子顯微鏡 FlexSEM 1000 II，憑借全新設(shè)計(jì)的電子光學(xué)系統(tǒng)和高靈敏度檢測(cè)器，可在加速電壓20 kV下實(shí)現(xiàn)4.0 nm的分辨率。全新開發(fā)的用戶界面，具有亮度和對(duì)焦自動(dòng)調(diào)節(jié)功能，可以在短時(shí)間內(nèi)進(jìn)行各種觀察。此外，還搭載了全新的導(dǎo)航功能“SEM MAP”，這個(gè)功能可彌補(bǔ)電子顯微鏡上難以找準(zhǔn)視野的缺點(diǎn)，實(shí)現(xiàn)最直觀的視野移動(dòng)。

型號(hào)：FlexSEM 1000 II

更新日期：2023-06-20

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超高分辨肖特基場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡SU7000不僅可以在低加速電壓下獲得高畫質(zhì)圖像，而且還可以同時(shí)接收多種信號(hào)。此外，它還具備大視野觀察、In-Situ觀察等FE-SEM的眾多性能。 SU7000是一臺(tái)實(shí)現(xiàn)了信息獲取量的新型掃描電鏡，可以滿足客戶的多種觀察需求。

型號(hào)：SU7000

更新日期：2023-06-20

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日立鎢燈絲掃描電子顯微鏡日立全新一代高分辨鎢燈絲掃描電鏡SU3800采用全新的HexBias偏壓技術(shù)，使其低電壓性能大大提升，同時(shí)升級(jí)的高靈敏度背散射探測(cè)器和可變壓力探測(cè)器使得SU3800的觀察能力進(jìn)一步提升。SU3800還增加了IFT燈絲監(jiān)控技術(shù)、全新的光鏡導(dǎo)航、集成的能譜以及報(bào)告導(dǎo)出等功能，使其操作也變得更為簡(jiǎn)單。

型號(hào)：SU3800

更新日期：2023-06-20

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